• 已选条件:
  • × 4th International Conference on Advanced Science
  • × Field emission scanning electron microscopes
 全选  【符合条件的数据共:2条】

作者:Kamar, E.M.^1, El-Dek, S.I.^2

关键词:FESEM;Field emission scanning electron microscopes;...

会议举办机构:Chemistry Department, Faculty of Science, Benha University, Benha, Egypt^1

会议时间:2018

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作者:Shenouda, Atef Y.^1

关键词:Charge transfer resistance;Discharge current density;...

会议举办机构:Central Metallurgical Research and Development Institute (CMRDI), P.O. Box 87, Tebbin, Helwan, Egypt^1

会议时间:2018

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